高分辨透射电子显微镜

发布时间:2013-02-24      访问次数:

高分辨透射电子显微镜 

设备名称:

高分辨透射电子显微镜(HRTEM)

    号:

JEM-2100(UHR)

  地:

日本JEOL

    值:

350万元

购置年份:

20104

主要技术参数:

1. 加速电压:80 200KV

2. 最高放大倍数:150万倍;   

3. 分辨率:点分辨率为0.19nm,晶格分辨率为0.14nm

JEM-2100高分辨透射电镜采用MS Windows™为基本操作界面,操作直观简便,不但具有优秀的电子光学系统,实现了计算机控制,还可以实现X-射线能谱仪(EDS)一体化控制,进行微区元素分析。

应用领域:

可以用于半导体工业、材料(金属、非金属)、生物医学、化工等领域的显微组织观察及衍射标定。由于其采用高亮度、高稳定性的LaB6电子枪,不但容易获得高分辨图像,还可以在进行纳米级高灵敏度分析时发挥巨大威力,同时对于纳米碳管、高分子材料等容易受强电子束损伤的材料,又能够非常方便地调整到最佳加速电压。与能谱仪结合,还可以在观察组织的同时进行材料的微区成分、点成分及元素的面分布等分析。